Zeta电位仪可用于测定分散体系颗粒物的固－液界面电性（ζ电位），也可用于测量乳状液液滴的界面电性，也可用于测定等电点、研究界面反应过程的机理。通过测定粉体的Zeta电位，从pH－Zeta电位关系图上求出等电点，是认识粉体表面电性的重要方法，在粉体表面处理中也是重要的手段。与国内外其它同类型仪器相比，它具有显著的*性。可广泛应用于化妆品、选矿、造纸、医疗卫生、建筑材料、超细材料、环境保护、海洋化学等行业，也是化学、化工、医学、建材等专业的重要教学仪器之一。Zeta电位仪是由新...

X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，可以测定元素含量。近年来，X荧光光谱分析在各行...

X射线荧光光谱分析通过将可选项的精度管理型软件进一步升级,并使之成为标准配备，实现了低价格化。与以往仪器相比，环境管制物质的测量时间大幅缩短，材料辨识功能、分析线切换功能、清晰易懂的操作面板易用性大大提高，分析速度更快，操作更简单。X射线荧光光谱分析是一种常用的分析仪器，主要由激发源和探测系统构成。基本原理就是：X射线管通过产生入射X射线(一次X射线)，来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光)，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量...

Insitec在线粒度分析仪粒度分布的定义所谓粒度分布，就是粉体样品中各种大小的颗粒占颗粒总数的比例。当样品中所有颗粒的真密度相同时，颗粒的重量分布和体积分布一致。在没有特别说明时，仪器给出的粒度分布一般指重量或体积分布。1.公式法表达粒度分布:Rosin-Rammler公式:W(x)=1-exp[-(x/De)^N]式中，De是与x50(中位径)成正比的常数，N则决定粒度分布的范围，N越大，力度分布范围越窄，表示样品中颗粒分布的均匀性越好。2.中位径:中位径记作x50,表示...

X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的大尺寸要求为直径51mm，高40mm。X射线荧光光谱仪分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；X射线荧...